Semiconductor Process Technology Academy Inc.
반도체공정설계
SAMSUNG
역할
메모리사업부
“반도체 공정 프로세스를 설계하고, 요구 성능 및 품질 확보를 위한 소자와 최적 Layout 및 Mask를 개발하는 직무”
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공정 프로세스 설계
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소자 개발 및 불량 분석
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Layout Architecture
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수율 향상
필수요건
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반도체 기본 동작원리, 공정개발 등 반도체 개발의 공정기술 개선에 필요한 역량 보유자
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반도체 소자의 물리적/재료화학적 분석에 필요한 역량 보유자
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Big Data Analytics역량 및 통계학 관련 전공지식 보유자
가산점
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직무와 연관된 경험 보유자 (프로젝트, 논문, 특허, 경진대회)
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반도체 개발 관련 Tool (DC Analyzer, LCR Meter 등) 역량 보유자
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Transistor 관련 (물리전자, 고체전자물리) 분석 유경험자
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C/C++, Visual Basic 등 Programming 유경험자
* 관련 SPTA 교육과정 *
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패터닝공정실습 : Photolithography / Etch / Wet Cleaning 공정 및 데이터 분석 실습
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반도체구조형성공정실습 : Wet Cleaning / Oxidation /Photolithography / Etch 공정 & 데이터 분석 실습
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반도체소자의 전기적특성측정 및 분석(중급) : DC Analyzer 및 LCR Meter를 활용한 소자 특성 측정 및 불량 분석 실습
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반도체소자제작 및 전기적특성분석(심화) : 반도체8대공정을 이용한 MOSFET 제작, DC Analyzer 및 LCR Meter를 활용한 소자 특성 측정
역할
파운드리사업부
“고객이 원하는 Chip의 Spec을 충족시키기 위하여 반도체 공정 아키텍처를 설계하고, 공정 및 제품에 적합한 소자를 개발하는 직무”
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Process Integration
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소자 개발(Device/SRAM)
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Logic제품을 위한 최신 공정 설계
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LSI제품을 위한 특화 공정 설계
필수요건
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기본적인 반도체 공정과 소자 특성에 대한 역량 보유자
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공학계열(전기전자, 재료/금속, 전산/컴퓨터, 화공, 산업공학 등), 물리 계열 전공자 또는 이에 상응하는 전공지식 보유자
가산점
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직무와 연관된 경험 보유자 (프로젝트, 논문, 특허, 경진대회)
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해외 고객/법인과 커뮤니케이션이 가능한 수준의 외국어 회화 역량 보유자
* 관련 SPTA 교육과정 *
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반도체공정교육 : 반도체 8대 공정에 대한 이론, 칩 제작을 위한 집적 공정에 대한 이론 교육
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패터닝공정실습 : Photolithography / Etch / Wet Cleaning 공정 및 데이터 분석 실습
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반도체구조형성공정실습 : Wet Cleaning / Oxidation / Photolithography / Etch 공정 & 데이터 분석 실습
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반도체소자제작 및 전기적특성분석(심화) : 반도체8대공정을 이용한 MOSFET 제작, DC Analyzer 및 LCR Meter를 활용한 소자 특성 측정
역할
반도체연구소
“최적화된 구조의 반도체 소자를 구현하기 위해 차세대 공정, 소재, 구조설계를 연구하여 첨단 반도체 제품을 개발하는 직무”
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Process Module Integration
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공정개발
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반도체 소자의 특성예측, 분석 및 개선
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Manufacturing Engineering
필수요건
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전기전자, 재료, 물성, 화학, 회로, 소자 및 물리 등 계열 전공자 또는 이에 상응하는 전공지식 보유자
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반도체 단위 공정 이해, 회로 및 소자 특성, 물성 및 화학 분석 원리, 전기전자 재료 특성 및 물성 등 반도체 설비 관련 경험자, Big Data 활용 역량 보유자
가산점
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직무와 연관된 SCI급 논문 작성 및 특허 출원 이력 보유자
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해외 연구소/설비, 소재 협력사와 커뮤니케이션 가능한 수준의 외국어 회화 역량 보유자
* 관련 SPTA 교육과정 *
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패터닝공정실습 : Photolithography / Etch / Wet Cleaning 공정 및 데이터 분석 실습
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반도체구조형성공정실습 : Wet Cleaning / Oxidation / Photolithography / Etch 공정 & 데이터 분석 실습
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반도체소자제작 및 전기적특성분석(심화) : 반도체8대공정을 이용한 MOSFET 제작, DC Analyzer 및 LCR Meter를 활용한 소자 특성 측정