반도체소자의 전기적 특성측정 및 분석(중급)

16시간(2일) 과정

교육목표

  • 제작된 반도체 소자의 전기적 특성을 직접 측정하고 분석함으로써 소자의 물성을 이해하고 분석 기법을 실습할 수 있는 과정

교육내용

  • 반도체 관련 중소기업 재직자, 구직자 및 이공계 대학생을 대상으로 전기적 특성 분석을 직접 실습하게 함으로써 실무 내용을 익히는 과정

  • Probe Station 사용법 교육 및 각종 파라메터 측정

  • 측정 결과 분석

 

​주요 실습내용

  • Probe Station을 이용한 Wafer Probing

  • Resistor의 I-V 특성 측정 및 저항 추출

-  PN 다이오드의 I-V 특성 측정 및 Leakage Current 추출

-  MOSFET의 I-V 특성 측정 및 주요 파라미터 추출

-  PN 다이오드의 C-V 특성 측정 및 Depletion Cap. 추출

  • MOS Capacitor의 C-V 특성 측정 및 Oxide 두께 추출

-  Parameter Analyzer를 이용한 전류-전압 (I-V) 특성 측정

-  LCR Meter를 이용한 용량-전압 (C-V) 특성 측정

교육비

  • 재학생 300,000 / 구직자 350,000 / 재직자 600,000

교육시간표

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Semiconductor Process Technology Academy Inc.